| 专利名称: | 一种低温、高气压环境下绝缘介质击穿强度实验装置 |
| 专利类别: | 发明 |
| 申请号: | |
| 申请日期: | 2018.12.21 |
| 专利号: | 2018115750066 |
| 第一发明人: | 任成燕;胡多;邵涛;章程;严萍;邱清泉;李杨威 |
| 其它发明人: | |
| 国外申请日期: | |
| 国外申请方式: | |
| 专利授权日期: | |
| 缴费情况: | |
| 实施情况: | |
| 专利证书号: | |
| 专利摘要: | |
| 其它备注: | |
一种低温、高气压环境下绝缘介质击穿强度实验装置
| 专利名称: | 一种低温、高气压环境下绝缘介质击穿强度实验装置 |
| 专利类别: | 发明 |
| 申请号: | |
| 申请日期: | 2018.12.21 |
| 专利号: | 2018115750066 |
| 第一发明人: | 任成燕;胡多;邵涛;章程;严萍;邱清泉;李杨威 |
| 其它发明人: | |
| 国外申请日期: | |
| 国外申请方式: | |
| 专利授权日期: | |
| 缴费情况: | |
| 实施情况: | |
| 专利证书号: | |
| 专利摘要: | |
| 其它备注: | |